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Room-Temperature Mechanical Properties and Slow Crack Growth Behavior of Mg2Si Thermoelectric Materials

Schmidt, Robert D ; Case, Eldon D ; Giles III, Jesse ; Ni, Jennifer E ; Hogan, Timothy P ; Morelli, Donald ; Rosendahl, Lasse ; Yang, Jihui ; Zhang, Wenqing

Journal of electronic materials, 2012-06, Vol.41 (6), p.1210-1216 [Evalué par les pairs]

Boston: Springer US

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